The JEOL Ion Beam Cross Section Polisher (CP) is widely used for preparing pristine samples prior to high resolution imaging and elemental analysis with the Scanning Electron Microscope (SEM). It produces pristine cross sections of samples – hard, soft, or composites – without smearing, crumbling, distorting, or contaminating them in any way. Webapps.thermoscientific.com

Broad Ion Beam Cross Section Polisher - JEOL USA

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Metallographie - metalle.uni-bayreuth.de

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